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“水稻植株表型性状主要参数自动提取系统”项目通过湖北省科技成果鉴定

发布时间:2010-01-10|点击:2564


   2010年1月5日,湖北省科技厅组织专家对由华中科技大学武汉光电国家实验室(筹)生物医学光子学研究部和华中农业大学作物遗传改良国家重点实验室联合完成的“水稻植株表型性状主要参数自动提取系统”项目进行了鉴定。会议由湖北省科技厅基础与成果处处长吴月朗主持。与会专家们认真审查了鉴定资料,听取了课题组的研究报告和技术工作报告,现场考察了系统的运行情况。

   鉴定委员会专家们一致认为:课题组研究设计了集光电技术、自动控制、机械化于一体的自动化系统;该系统可自动、无损、在线提取盆栽水稻株高、绿叶面积和分蘖等表型参数。该成果已形成工程样机,是我国自主研发的第一套多参数水稻表型测量设备。该研究成果总体达到国际先进水平,其中采用X射线断层成像技术测量水稻分蘖数为国际首创。建议加快该成果的产业化进程。

   鉴定专家组由北京农业信息化技术中心赵春江教授(组长),武汉大学何光存教授(副组长),湖北农业科学院焦春海研究员,湖北大学蔡得田教授,中国科学院武汉物理与数学研究所雷皓研究员,华中师范大学张国平教授,湖北省计量测试技术研究院杨学泉高级工程师组成。出席鉴定会的还有湖北省科技厅成果处龙华科长,华中科技大学科学技术院陶端华、明玉柱老师。来自华中科技大学的课题组成员骆清铭教授、刘谦副教授、陈尚宾博士以及来自华中农业大学的熊立仲教授、陈国兴副教授等参加了鉴定会。会议在华中农业大学举行。

   鉴定会期间,中国科协副主席、中国科学院院士、美国科学院外籍院士张启发教授看望了与会专家并现场介绍了“水稻植株表型性状主要参数自动提取系统”的运行情况。本次鉴定会的成功举行标志着我国自主研发的第一套作物表型平台正式研发成功并投入使用。