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表型平台老师参加第二届植物表型组学国际会议

发布时间:2011-09-10|点击:3450


   2011年9月5日至9月7日,华中农业大学杨万能副教授与生科院熊立仲教授、植科院陈国兴副教授一行3人,应邀参加了德国尤里希表型植物表型研究中心(JPPC, Julich Plant Phenotyping Centre)举行的第二届植物表型组学国际会议(2nd International Plant Phenotyping Symposium 2011)。会议期间,杨万能老师在大会上做题为“Development of a rice plant phenomics facility equipped with agricultural photonics”的技术报告。大会相关报告将以增刊的形式发表在“Functional Plant Biology”杂志上。


   植物表型组学会议每两年举行一次,是全球植物表型组学研究领域成果交流的重要会议。第一届植物表型组学会议于2009年在澳大利亚APPF研究中心举行(Australian Plant Phenomics Facility)举行,此次是第二届。本次会议参与者包括全世界各地二十几个研究所和相关表型技术研发公司,近200名表型组学研究领域内的专家参加,其中包括德国IPK研究所,法国INRA研究所,德国LemnaTec公司,巴斯夫Cropdesign植物科学研究部,等世界著名作物育种和表型研究机构。


   表型组学是一门将光电技术、自动化技术、机械制造技术、计算机技术结合于一体,在基因水平上系统研究某一生物或细胞在各种不同环境条件下所有表型的学科。表型组学技术解决传统表型观测手段所带来的瓶颈,为基因组学研究和植物表型研究提供必要的桥梁,最终为功能基因组学以及分子育种等作物育种研究提供强有力的现代化观测技术和科学仪器。